Тестер "ложе гвоздей"

Тестер Compact TK – это тестовая система типа "ложе гвоздей", предназначенная для аналогового и цифрового тестирования сложных электронных модулей в производстве.

Функциональные возможности

• Внутрисхемное тестирование коротких замыканий (КЗ) и обрывов цепей, номиналов резисторов, конденсаторов и индуктивностей, установленных полупроводниковых компонентов (диодов, стабилитронов, транзисторов), трансформаторов, включая согласование обмоток, установленных микросхем по входным защитным диодам, качества пайки микросхем емкостным методом и т.д.
• Внутрисхемное цифровое тестирование (опция): контроль цифровых микросхем на соответствие таблице истинности.

Для исключения влияния параллельно установленных микросхем (например, при наличии шинной технологии) на вход тестируемой микросхемы подаются импульсы большого тока с ограниченной длительностью (backdriving - принудительный перевод логики в нужное логическое состояние). Максимальное количество гибридных тестовых каналов (аналоговых/цифровых) системы – 1536 (с шагом, кратным 64). Система работает с адаптерными устройствами типа «ложе гвоздей» (bed-of-nails) с автоматическим пневматическим прижимом. В тестер по модульному принципу могут быть добавлены функциональные модули источников питания, контроллеры динамического цифрового тестирования, а также дополнительные мультиплексирующие, релейные и цифровые модули.

Технические характеристики